Nanolink SZ902系列纳米粒度分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了真理光学最新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。

Nanolink SZ902纳米粒度分析仪

Nanolink SZ902纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括：

    ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm*

    ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性
    ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用
    ◆独创的余弦拟合相位分析法（CF-PALS）优于目前的频谱分析法（FFT）和传统的位相分析法（PALS）
    ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术
    ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术
    ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器
    ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C
    ◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹¹
    ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术

   

测量原理	动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）
粒径测量角度	90°,173°（高浓度），12°（Zeta电位）
粒径测量范围	0.3nm -15um*
粒径测量最小样品量	3ul*
粒径测量最小样品浓度	0.1mg/ml
粒径测量最大样品浓度	40%/wv
检测点位置	距入射点0~5mm可调
检测点定位精度	0.01mm
Zeta电位技术	余弦拟合位相分析法（CF-PALS）
适用Zeta电位测量的粒径	任意范围，无明确限制
迁移率范围	1nm - 120μm*
最大电导率	270mS/cm
电导率准确度	±10%
电极	插入式平板电极、U型毛细管电极
分子量范围	340Da - 2x107Da
温度控制范围	-15°C -  120°C
温度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器
相关器	高速数字相关器，自适应通道配置
检测器	高灵敏度APD
进样方式	手动/自动
样品池	12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池（多种可选）
系统重量	16kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)

注：* 取决于样品及样品池选件